cephalometric analysis(側臚頭影分析)維基百科的解釋
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Lateral cephalometric analysis
測顱術(cephalometry)是齒顎矯正(orthodontics)治療過程中，用於分析病人頭顱型態及評估治療效果的一種測量技術,利用側顱X光片，經過電腦程式分析後，我們可以評估上、下顎骨頭間的相互位置，以及牙齒與骨頭間之角度關係，藉以評估是否藉由拔牙來進行矯正治療。
側顱（Cephalometric）是一張側面掃描頭顱之X光攝影，主要用於齒列矯正術前、術後評估用的影像，矯正醫師利用它來製作矯正分析圖（Tracing）所得到的測量值（Means）來進行評估病患屬於何種咬合類型，同時配合其他X光片攝影（如：全口掃描、正頭顱X光），執行矯正治療計劃
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